SRX型ラプチャーディスクとは
SRX型ラプチャーディスクは反転式ディスクに”X”字型のスコア(切り溝)が入っていて開口時にはそのスコアにより完全な破裂開口を得ることができますので、今までの反転式のようにナイフ・ブレードを必要としません。
また、その際破片の飛散がないため、安全弁との併用には最適です。
主な特徴
- 破片の飛散がないため、安全弁との併用に最適
- サイクル脈動運動に強い
- バキューム・サポート無しでフルバキュームまで使用できます
- 背圧には、刻印破裂圧力まで使用できます
- 製造範囲の下限または許容公差の下限に対して90%までの圧力で運転可能です
- 位置決め用タブ付き
- O-リングを使用することでリーク量を1×10-8Acc/sec(1×10-9Pam3/sec)以下にてシールできます(ヘリウムリークテストによる)
- ガス・ベーパーラインに使用可能。SRX型ラプチャーディスクは、ガス・ベーパーラインにのみ使用可能となり、液体がディスクに触れる場合はご使用になれません。そのため、一定のエアだめが必要となります。
O-リング:リークの許されないプロセスに最適
SRXのホルダーは、メタルタッチによる締め付け圧力でラプチャーディスクをシールします。
シール性についてはヘリウムリークテストにて1×10-3Acc/sec(1×10-4Pam3/sec)以下のリーク量となります。また、リークの許されないプロセスにSRXラプチャーディスクを使用する場合は、オプションとしてO-リングホルダーを用意しています。O-リングホルダーを使用した場合のシール性はヘリウムリークテストにて1×10-8Acc/sec(1×10-9Pam3/sec)以下のリーク量となります。なお、O-リングはバイトン製とテフロン包みバイトン製があります。
O-リングの最低使用温度は-26.1℃、最高使用温度は232℃となります。
シール性についてはヘリウムリークテストにて1×10-3Acc/sec(1×10-4Pam3/sec)以下のリーク量となります。また、リークの許されないプロセスにSRXラプチャーディスクを使用する場合は、オプションとしてO-リングホルダーを用意しています。O-リングホルダーを使用した場合のシール性はヘリウムリークテストにて1×10-8Acc/sec(1×10-9Pam3/sec)以下のリーク量となります。なお、O-リングはバイトン製とテフロン包みバイトン製があります。
O-リングの最低使用温度は-26.1℃、最高使用温度は232℃となります。