運転中、気密試験中のラプチャーディスク破裂の原因と対策

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ラプチャーディスクの腐食

腐食は、過早破裂に繋がることは容易に判ります。
単に流体に対しての腐食を考慮するのであればラプチャーディスクの素材を耐食金属にすれば良いのですが、その他に応力腐食割れ(SCC)、隙間腐食等の電気腐食、配管からのもらい錆、例は極僅かですがエロージョン・コロージョン等も検討しなくてはなりません。

この腐食に関しては、弊社とユーザーの情報交換を密にして対処する必要があります。ユーザーのご協力をお願いいたします。

テフロンのシールを使用した、HO,HOV,PLHO,PLHOV型では流体の浸透(透過)により金属ディスクが腐食される場合もありますので、流体の浸透性を考慮する必要性がありますが、データが少なく苦慮するところです。
ユーザーのご協力をお願いいたします。

腐れ代を持たないディスクにとって、腐食は天敵です。種々の情報のご提供をお願いいたします。

過早破裂の原因となるディスクの腐食
写真:過早破裂の原因となるディスクの腐食
(1)の部分に腐食が発生して過早破裂。