運転中、気密試験中のラプチャーディスク破裂の原因と対策

ラプチャーディスク / FAQ / 運転中、気密試験中のラプチャーディスク破裂の原因と対策

ラプチャーディスクが取付けられている装置の振動

コンプレッサー本体近傍に取付けられたHO型ラプチャーディスクが、短期間で過早破裂してしまう。

過早破裂する使用期間がだいたい一定なので、過早破裂する前にディスクを取外して見たところ、金属ディスクの外周に施工してある穴と穴の間(この距離と板厚で破裂圧力を調節する)にクラックが入っていた。

振動によりクラックが入ったのではないかとの推定から、ディスクの取付け位置をコンプレッサー本体から離して、コンプレッサーの振動の影響を受けない位置にディスクを取付け直ししたところ、短期間での過早破裂はなくなりました。

ディスクの取付け位置の検討をお願いします。

HO以外の型式においても、ディスクが取付いている装置に振動があり、この装置振動が過早破裂の要因となることがあります。