運転中、気密試験中のラプチャーディスク破裂の原因と対策

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ラプチャーディスクが取付けられている配管の倒れ

A系統の配管に取説に則りラプチャーディスクを取付け気密試験を実施したところ、所定破裂圧力以下で破裂した。再度ディスクを交換して気密試験を実施したが、同じように過早破裂した。

同じ仕様・使用の系統がA,B,Cの3系統あるが、過早破裂を起こすのはA系統のみでB・C系統は異常なく気密試験を実施できた。そこで、ホルダーに問題があるのではないかと疑問に思いA系統とB系統のホルダーを入替えてみたところ、A系統に入れたB系統ホルダーが過早破裂した。
ここで、ホルダーの問題でないことが確認された。

この装置はディスク前後の配管が非常に長いために、数箇所の配管サポートが取付けられている。この配管サポートを調べて行くと、A系統の配管サポートがB・C系統と異なり配管の倒れを充分保持できなくて、配管の倒れが発生していた。

このため、配管倒れによる偏荷重がホルダーを挟むフランジに作用して、ホルダーを介してディスクに偏荷重が伝達されることで過早破裂したものと推定して、A系統の配管サポートの見直しを実施した。

A系統の配管サポートをやり直して気密試験を実施したところ、過早破裂しなくなりました。

配管系統のチェックもお願いします。

破裂板をこのような長い配管に取り付ける場合には、配管サポートの実施を行ってください。
写真1:破裂板をこのような長い配管に取り付ける場合には、配管サポートの実施を行ってください。