ラプチャーディスクの保全

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試験成績書はどのように見ればよいですか?

破裂試験成績書製作データ欄
図1:破裂試験成績書製作データ欄

( 1 ) 刻印破裂圧力

ラプチャーディスクの設定圧力で、銘板にはここに記載されている設定圧力が刻印されます。

Ambientは室温の事で、15℃~30℃を指します。ラプチャーディスクは室温で製作されますのでご要求の設定温度にする為に温度換算をする必要があります。上記の例では、設定圧力0.330MPaG at 168℃のラプチャーディスクを製作する為には、室温で破裂試験を行い温度換算されております。この製造方法は規格で認められております。上記は製造範囲がゼロレンジの場合ですが、製造範囲がある場合、破裂圧力結果の平均値を温度換算した結果が設定圧力となります。

( 2 ) 破裂公差

ラプチャーディスクの許容公差です。
破裂公差も刻印破裂圧力と同様に室温の時の破裂公差を設定温度時の破裂公差に温度換算しております。

上記の例では、室温で0.365~0.403MPaGの破裂公差は温度換算され設定温度時の168℃では0.314~0.347MPaGの間で破裂する事を表します。

( 3 ) 破裂圧力結果(上部)

実際に行った破裂試験の結果です。
最低2枚に試験を実施し、その結果が上記の数値になります。

この試験結果がAmbientでの破裂公差内に入っていれば、設定温度時に換算しても破裂公差内に入るため合格となります。

( 4 ) 破裂圧力結果(下部)

設定温度にて破裂試験が実施された場合、ここに結果が記載されます。
通常、日本国内向けでは設定温度での破裂試験は実施されません。

( 5 ) 製造番号

ロット毎に決められた番号です。予備品ご注文時にはこの番号をご連絡下さい。

「タグ・図面番号」欄の表記に関する補足

タグ番号の後ろに(EA)、図面番号の後ろに(ALL)と表記をする場合がございます。
(EA)はEACHの略称で「それぞれに刻印」、(ALL)は「全てに刻印」という意味です。

同ロットで製作するアイテムに複数のタグ番号があり、枚数ごとに異なるタグ番号を刻印している場合にはこのような表記となります。

例) RD-○○○(3EA), RD-XXX(3EA), X□□□□□□(ALL)
6枚のディスクの内、3枚にRD-○○○を刻印、3枚にRD-XXXを刻印、そして図面番号であるX□□□□□□は6枚全てに刻印されることを意味します。