ラプチャーディスク（P,PV,HO,HOV,PLHO,PLHOV型）をフランジに取付け、気密試験を実施したところディスクシール部からリークした。ディスクを取外して調べたところ、ディスクが傾いて取付けられていて、ディスク外周の平坦部がめくれ上がっていた。また、スリットの入っている金属ディスクのスリット部が大きく変形(過早破裂の原因となる)していた。

ディスクを新品に交換して倒れないように取付け直して、再度気密試験を実施してリ−クはなくなりました。

ディスクの水平を保ちながらホルダーに組込んで下さい。